卷尺在半导体材料尺寸测量中的应用与挑战
在半导体材料制造的精密世界里，每一个微小的尺寸都可能决定着产品的性能与质量，传统上用于测量尺寸的工具——卷尺，在面对这一高精度需求时，却显得力不从心。问题提出： 如何在保持卷尺便携性与经济性的同时，提升其在半导体材料尺寸测量中的精度与可靠性...
在半导体材料制造的精密世界里，每一个微小的尺寸都可能决定着产品的性能与质量，传统上用于测量尺寸的工具——卷尺，在面对这一高精度需求时，却显得力不从心。问题提出： 如何在保持卷尺便携性与经济性的同时，提升其在半导体材料尺寸测量中的精度与可靠性...