在半导体材料的研究中，一个常被忽视但至关重要的因素是“时段”——从材料制备到最终应用的整个生命周期中，其性能会随时间发生微妙变化，在高温退火过程中，不同时段内对材料进行测试，其电学性能、化学稳定性及机械强度的数据可能大相径庭。
研究表明，刚完成退火的材料，其内部结构尚处于“调整”状态，性能数据波动较大；而经过一段时间的自然冷却后，其性能趋于稳定，在器件使用过程中，随着使用时间的延长，半导体材料会因辐射、热应力等因素逐渐老化，导致性能下降。
对于半导体材料的研究和应用而言，“时段”是一个不可忽视的变量，它不仅关乎实验的精确性，更关乎产品的可靠性和使用寿命，如何通过精确控制“时段”，优化半导体材料的性能稳定性，将是该领域的一大挑战和研究方向。
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